深圳市凱光新光電設(shè)備有限公司
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可靠性環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備
高溫反偏老化測試系統(tǒng)
HTRB-D-HV-8L
將被測元件放置于一定的環(huán)境溫度中,(環(huán)境溫度依據(jù)被測元件規(guī)格設(shè)定)給二極管施加一定的反向直流電壓。同時(shí)工控機(jī)時(shí)時(shí)檢測每個(gè)材料的漏電流,電壓,并根據(jù)預(yù)先設(shè)定,當(dāng)被測材料時(shí)時(shí)參數(shù)(HTIR)超出設(shè)定時(shí),自動切斷被測材料的電壓。
主機(jī)設(shè)計(jì)理念
1.1 元件失效時(shí)要保證提供足夠的信息給工程師做分析。
1.1.1 必須記錄失效時(shí)電壓,溫度(這是半導(dǎo)體元件最敏感參數(shù))及被測元件漏電流隨時(shí)間的變化趨勢。
1.1.2 當(dāng)元件即將失效之前,立即將材料從被測回路中斷開,保證給工程師提供一個(gè)近似完好的元件,而不是完全燒毀的元件,從而使工程師更容易分析失效原因。
1.1.3 為了實(shí)現(xiàn)以上目的,我們在每個(gè)元件中均串聯(lián)有電子開關(guān),保證當(dāng)被測材料超出漏電流規(guī)格時(shí),能自動切斷被測材料。而傳統(tǒng)的電阻保護(hù)和保險(xiǎn)絲保護(hù),由于控制漏電流精度較低,一般很難實(shí)現(xiàn)此功能。
1.2 HTRB的測試條件是80%VR, 最大Tj,一般電壓很好設(shè)定,但是如何設(shè)定試驗(yàn)箱的環(huán)境溫度從而使材料Tj達(dá)到最大卻較難設(shè)定。本設(shè)備能輔助使用者通過簡單調(diào)整,計(jì)算出如何實(shí)現(xiàn)以上條件。
更多資訊,請聯(lián)系本公司技術(shù)人員。
1.1 元件失效時(shí)要保證提供足夠的信息給工程師做分析。
1.1.1 必須記錄失效時(shí)電壓,溫度(這是半導(dǎo)體元件最敏感參數(shù))及被測元件漏電流隨時(shí)間的變化趨勢。
1.1.2 當(dāng)元件即將失效之前,立即將材料從被測回路中斷開,保證給工程師提供一個(gè)近似完好的元件,而不是完全燒毀的元件,從而使工程師更容易分析失效原因。
1.1.3 為了實(shí)現(xiàn)以上目的,我們在每個(gè)元件中均串聯(lián)有電子開關(guān),保證當(dāng)被測材料超出漏電流規(guī)格時(shí),能自動切斷被測材料。而傳統(tǒng)的電阻保護(hù)和保險(xiǎn)絲保護(hù),由于控制漏電流精度較低,一般很難實(shí)現(xiàn)此功能。
1.2 HTRB的測試條件是80%VR, 最大Tj,一般電壓很好設(shè)定,但是如何設(shè)定試驗(yàn)箱的環(huán)境溫度從而使材料Tj達(dá)到最大卻較難設(shè)定。本設(shè)備能輔助使用者通過簡單調(diào)整,計(jì)算出如何實(shí)現(xiàn)以上條件。
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